http://www.sciencehuman.com 科学人 网站 2006-06-11
新华网东京6月9日电 (记者 钱铮) 日本科学家8日宣布，他们对反质子质量的测定已精确到小数点后10位，打破了由他们自己保持的精确到小数点后9位的纪录。
据共同社报道，东京大学教授早野龙五等人使用获得2005年诺贝尔物理学奖的光梳技术，先制造能精密测定频率的激光，再用这种激光轰击“反质子氦”。所谓“反质子氦”，是指用一个带负电的反质子置换氦原子两个电子中的一个所得到的粒子。以“反质子氦”的发光方式为基础，就可计算出反质子的质量。
科学家说，他们用这种方法成功使反质子的质量测定精确到小数点后10位。
现有理论认为，反质子的质量与质子相同。根据本次测算结果，反质子的质量约为电子质量的1836倍，在这个精度上反质子的质量与质子质量确实一致。
巴人论评
反质子质量测定尚需极大改进
虽然日本使用新技术测定了反质子质量，但是，我们认为这种方法存在理论性和技术性误差，仍然不足以证明反质子质量等同质子质量。
因为，这种测量过程不是直接测定的质子质量，而是间接测试“反质子氦”的发光后计算出来的。我们认为，将此方面的测试认定为是某种中间态的发光粒子表现特征更为合乎实验事实一些。在这个过程中质子变成为“反质子氦”粒子后，我们确实不知道质子所损耗的是什么东西，它完全可能发射出一种我们无法测定的极小质量的粒子，比如可能存在的正负电子对粒子就完全有可能。所以，损耗后的“反质子氦”的质量不一定就是我们所认为那样变化的东西。
更何况，测定发光光谱也存在误差。这样，两种测量误差交织在一起，误差就可能很大，尽管这种存在理论性缺陷的误差可能是非常稳定的。
我们认为，质子质量的测定还需要借助理论和技术的发展。我们目前还只能测定统计量，对单个质子的质量还无法准确测定，因而测量中质子的数量必须具有相当可观的数量；同时 ，采用高性能超导形成稳定均一磁场的超级精密性质谱法测定可能还是最为可靠的方式。直接测定质子比间接测定更为有说服力。
[巴人]
